Gebrauchter Halbleiter-Parameteranalysator Keithley 4200-SCS

Gebrauchter Halbleiter-Parameteranalysator Keithley 4200-SCS

Das Keithley 4200-SCS Semiconductor Characterization System führt DC- und Pulsgerätecharakterisierung in Laborqualität, Echtzeit-Plot und -Analyse mit hoher Präzision und Auflösung von Sub-Fem bis Amp durch.

Produkteinführung

Produktübersicht

KEITHLEY 4200-SCS

Das Keithley 4200-SCS Semiconductor Characterization System führt DC- und Pulsgerätecharakterisierung in Laborqualität, Echtzeit-Plot und -Analyse mit hoher Präzision und Auflösung von Sub-Fem bis Amp durch. Der Keithley 4200-SCS bietet die fortschrittlichsten Funktionen eines vollständig integrierten Charakterisierungssystems, einschließlich eines vollständigen eingebetteten PCs mit Windows-Betriebssystem und Massenspeicher. Die selbstdokumentierende Point-and-Click-Oberfläche beschleunigt und vereinfacht die Datenerfassung, sodass Benutzer früher mit der Analyse ihrer Ergebnisse beginnen können. Zusätzliche Funktionen ermöglichen Spannungsmessfunktionen, die für eine Vielzahl von Zuverlässigkeitstests geeignet sind, sowie präzise Messung und hohe Auflösung mit Unterstützung für LCR-Messgeräte.


Zu den Funktionen des Keithley 4200 -Systems gehören:

● Intuitive Windows®-basierte Umgebung mit Mausklick

● Einzigartige Remote-PreAmps erweitern die Auflösung von SMUs auf 0. 1 fA

● Das CV-Instrument macht CV-Messungen so einfach wie DC IV

● Puls- und Puls-IV-Funktionen für erweiterte Halbleitertests

● Die Scope-Karte bietet integrierte Funktionen für Scope und Pulsmessung

● Der in sich geschlossene PC bietet eine schnelle Testeinrichtung, leistungsstarke Datenanalyse, grafische Darstellung und Druckfunktion sowie eine integrierte Massenspeicherung der Testergebnisse

● Der einzigartige Projektnavigator im Browser-Stil organisiert Tests nach Gerätetyp, ermöglicht den Zugriff auf mehrere Tests und bietet Testsequenzierung und Schleifensteuerung

● Integrierte Belastungs- / Mess-, Schleifen- und Datenanalyse für Point-and-Click-Zuverlässigkeitstests, einschließlich fünf JEDEC-konformer Probentests

● Integrierte Unterstützung für eine Vielzahl von LCR-Messgeräten, Keithley-Switch-Matrix-Konfigurationen sowie Impulsgeneratoren der Keithley-Serie 3400 und Agilent 81110

● Enthält Softwaretreiber für führende Analyseprüfer

● 2 X 4 2 10-SMU - Zwei zusätzliche 4 2 10-SMU-Hochleistungs-SMU-Karten

● 4 X 4 200-SMU - Vier 4 200-SMU-SMU-Karten mittlerer Leistung


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