Das Keithley 2520 Pulsed Laser Diode Test System ist ein integriertes, synchronisiertes System zur Frühen Prüfung von Laserdioden im Herstellungsprozess, wenn eine ordnungsgemäße Temperaturregelung nicht einfach zu erreichen ist. Der Keithley 2520 bietet alle Beschaffungs- und Messfunktionen, die für die gepulste und kontinuierliche LIV-Prüfung (Lichtstromspannung) von Laserdioden in einem kompakten Half-Rack-Instrument erforderlich sind. Die enge Synchronisation von Quell- und Messfunktionen sorgt für eine hohe Messgenauigkeit, selbst bei Tests mit Pulsbreiten von nur 500 ns.
Es gibt drei Kanäle von Quell- und Messschaltungen im Keithley 2520. Alle drei Kanäle werden über einen einzigen digitalen Signalprozessor (DSP) gesteuert, der eine enge Synchronisation der Sourcing- und Messfunktionen gewährleistet. Der Laserdioden-Antriebskanal bietet eine Stromquelle gekoppelt mit Spannungsmessfähigkeit. Jeder der beiden Photodetektorkanäle bietet zusätzlich zur Strommessfunktion eine einstellbare Spannungsverzerrung und Spannungskonformität. Diese drei Kanäle bieten alle Quell- und Messfunktionen, die für die vollständige LIV-Charakterisierung von Laserdioden vor der Integration in temperaturgesteuerte Module erforderlich sind. Durch die Eliminierung der Notwendigkeit von GPIB-Befehlen, Test-Sweeps mit mehreren separaten Instrumenten durchzuführen, ermöglicht die integrierte Beschaffung und Messung des Keithley 2520 eine signifikante Verbesserung des Durchsatzes.
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