Produktübersicht
Der Agilent / HP 4155A Semiconductor Parameter Analyzer bietet eine hohe Auflösungsgenauigkeit und eine breite Palette. Mit dem Agilent / HP 4155A Semiconductor Parameter Analyzer können Sie Ihre Halbleiterqualität durch Materialauswertung und Gerätecharakterisierung bis hin zur abschließenden Paketteilinspektion und Feldfehleranalyse verbessern.
Zu den Merkmalen und Spezifikationen des Agilent / HP 4155A Semiconductor Parameter Analyzer gehören:
I: 1 fA bis 100 mA (20 fA Offsetgenauigkeit)
V: 1 Mikro V bis 100 V
• Vollautomatische I-V-Sweep-Messungen mit DC- oder Pulse-Modus erweiterbar auf bis zu 6 SMUs
•Synchronisierte Spannungs-/Messfunktion
• Zwei Hochspannungs-Impulsgeneratoreinheiten (+/- 40 V)
Zeitbereichsmessung: 60 Mikros - variable Intervalle bis 10.001 Punkte
• Einfach zu bedienender Knopf-Sweep ähnlich wie Kurven-Tracer
•Automatische Analysefunktionen
•Eingebauter Agilent / HP Instrument BASIC
•Trigger-I/Q-Fähigkeit
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